简述胰岛素抵抗的检验方法

胰岛素抵抗的检测方法很多，按设计原理大致分为三类：开环法：即阻断内源性葡萄糖与胰岛素反馈环法，如正常葡萄糖高胰岛素钳夹技术、胰岛素抑制试验。闭环法：即激发葡萄糖与胰岛素反馈环法，如最小模型技术、口服葡萄糖耐量试验、胰岛素耐量试验、胰高血糖素试验和持续输注葡萄糖模型分析法；基础状态法：用基础状态下的空腹血糖（FpG）和空腹胰岛素浓度（FBI）两个指标评估胰岛素抵抗，如FBG/FBI，1/FBG×FBI和稳态模型评价（HOMA）等。

正常血糖高胰岛素钳夹技术（EICT）被公认为评价胰岛素的金标准；最小模型法与EICT相关性好，被认为是准确性较高的检测方法但两种方法操作繁琐，不适合大样本人群胰岛素抵抗的普查。胰岛素敏感指数、稳态模型法以及空腹胰岛素水平等方法简便易行，以被广泛应用于胰岛素抵抗的普查。

EICT是目前公认的检测胰岛素抵抗的方法，被认为是IR检测的金标准。本方法是测定组织对外源性胰岛素敏感性的方法，快速连续胰岛素灌注使血浆胰岛素浓度迅速升高并维持在一定水平，改变葡萄糖灌注率使血糖稳定在基线水平。在这种水平下可通过抑制肝糖输出和内源性胰岛素的分泌，即阻断内源性葡萄糖-胰岛素反馈，这时葡萄糖灌注率等于外源性胰岛素介导的机体葡萄糖代谢率。

具体方法为：空腹12h，抽血测基础血糖、胰岛素的值，静滴胰岛素5mU/kg.min，使血胰岛素维持在100mU/L，保持此速率不变，然后静滴2%葡萄糖（2mg/kg.min），每隔5min监测血糖一次，并用Harvard泵调整葡萄糖的输注速率（GIR），以外源性胰岛素钳制血糖于正常水平（1mmol/L）持续60min。血胰岛素浓度在50mU/L以上能抑制90%肝脏内源性葡萄糖生成，因此外源注入葡萄糖量减去机体所有组织摄取量，即为胰岛素介导的葡萄糖代谢率和单位胰岛素所代谢葡萄糖量，这就是胰岛素敏感性指标，应用较普遍。GIR越小，机体胰岛素抵抗越严重。与胰岛素耐量试验（ITT）相比，具有不产生低血糖和伴随的复杂神经内分泌反应等优点，因为以每5min间隔计算葡萄糖代谢率，可测组织对胰岛素敏感的时间曲线，对阐明疾病的发病机制有帮助。该试验排除了体内许多难以控制的干扰因素对评价IR的影响。但该试验时葡萄糖可受胰岛素水平改变时周围血流变动的影响；并与输入胰岛素量而非胰岛素浓度相关。但是完成试验需要床边血糖自动分析议和Harvard泵等特殊设备，每5min调整GIR，费用昂贵，限制了此技术的推广。