x光怎么鉴定扁平足

扁平足可通过X光检查结合足弓角度测量进行鉴定。X光检查是诊断扁平足的重要影像学手段，主要通过足部正位片和侧位片观察足弓结构变化。

拍摄足部正位片时，患者需站立位双足均匀负重，X光机从足背方向投射，可清晰显示距骨、舟骨、楔骨等骨骼排列关系。正常足弓在正位片表现为内侧纵弓呈拱形，而扁平足患者可见距骨头向内下方倾斜，舟骨下沉，内侧纵弓弧度减小或消失。拍摄足部侧位片时，X光机从足内侧方向投射，可准确测量跟骨倾斜角和距骨第一跖骨角。正常跟骨倾斜角为18-25度，距骨第一跖骨角小于4度，扁平足患者这两个角度常明显增大。部分医疗机构还会要求拍摄负重位足部X光片，更能真实反映行走时足部受力状态。除骨骼结构外，X光片还可显示继发性改变如距下关节半脱位、骨赘形成等。临床医生会综合X光表现与体格检查结果进行诊断，必要时结合CT或MRI进一步评估软组织病变。

建议存在足部疼痛、易疲劳等症状者及时就医检查，避免长时间行走或站立加重足部负担。日常可选择有足弓支撑的功能鞋垫，进行踮脚运动、抓毛巾练习等足部肌肉锻炼。体重超标者需控制体重减轻足部压力，儿童青少年建议避免过早穿硬底鞋。