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牙齿X光片主要通过观察牙体组织的密度变化来判断龋齿,主要表现为牙釉质或牙本质出现低密度阴影区。
龋齿在X光片上的典型特征是牙体硬组织出现透射影。早期龋齿可能仅表现为牙釉质表层的小范围透亮区,随着龋坏进展,透射影会向牙本质层延伸,形成明显的三角形或漏斗状低密度区。邻面龋在咬合翼片上可见牙邻接面釉质连续性中断,牙颈部龋则显示为牙颈部的月牙形透射区。深龋接近牙髓时,透射影可能已波及牙本质深层,此时需结合临床检查判断是否需根管治疗。X光片还能发现隐匿性龋,如牙缝间肉眼不可见的早期龋坏。
拍摄X光片时需注意区分正常解剖结构与龋齿表现。牙釉质与牙本质交界处、牙颈部等部位可能出现正常低密度影,需结合龋齿特有的形态特征进行鉴别。邻面龋需与牙缝间隙区分,后者边缘光滑且对称。修复体下方的继发龋表现为修复体边缘的透射影,而银汞合金周围的晕轮效应属于正常现象。对于难以确诊的病例,可结合数字化X光的对比度调节功能辅助判断。
建议每6-12个月进行一次口腔检查,发现龋齿及时治疗。日常使用含氟牙膏刷牙,配合牙线清洁邻面,减少高糖饮食摄入可有效预防龋齿。拍摄X光片时应做好甲状腺等部位的防护,儿童及孕妇需谨慎选择适应症。